ag真人登录_蔡司(ZEISS)使用CrossbeamLaserFIB-SEM数量级加快半导体封装失效分析速度

蔡司CrossbeamLaser将飞秒激光、镓离子探讨离子束(FIB)和场发射扫描电镜(SEM)统合于单一设备,获取针对特定方位的最较慢横截面工作流程加州普莱斯顿与德国奥博科亨,2020年2月4日--蔡司日前发售了针对特定方位的探讨离子束扫描电镜(FIB-SEM)新型解决方案蔡司CrossbeamLaser,该产品需要明显减缓高级半导体PCB过热分析以及制程优化。